基礎版 LSR-3（LSR L31）可通過多種可選配件功能擴展應用范圍。例如，低溫配件支持液氮冷卻至 -100 °C 的全自動測量，并配備專用的薄膜適配器，用于測量薄膜及薄層樣品。
可選攝像頭功能可實現電導率的高精度測定，而高阻配件則顯著擴展了測量范圍，適用于低電導率樣品的表征。
由于計算無量綱值 ZT 時，除塞貝克系數和電導率外，還需熱導率數據，因此通常需借助其他設備（如激光閃射法導熱儀 LFA）進行測定。為解決這一問題，林賽斯 LSR 測量系統可集成額外的激光閃射法導熱儀（參見 LZT 測量儀），或采用特殊適配器，通過哈曼法直接測量固體材料的熱導率。這是一種直接的ZT測定方法，結合原始的兩項測量數據，可推導出熱導率。集成哈曼法的 LSR 測量系統因其顯著附加價值，被稱為 LSR-4 。通過選配擴展測量電子設備，LSR-4 測量系統還可基于相同測量原理，利用阻抗光譜技術測定熱電模塊（TEG）的 ZT 值。
| 類型 | LSR-3 (LSR L31) | ||
| 溫度范圍： | 紅外爐體：室溫至 800 °C / 1100 °C 電阻爐體：室溫至 1500 °C 低溫爐體：-100 °C 至 500 °C | 水冷系統： | 必選 |
| 測量方法： | 塞貝克系數：靜態直流法 / 斜率法 電阻率：四探針法 | 塞貝克系數 測量范圍： | 1 μV/K 至 5000 μV/K（靜態直流法） |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空 推薦使用低壓氦氣 | 電導率測量范圍： | 0.01 至 2 × 105 S/cm |
| 樣品夾具： | 垂直夾持，位于兩電極之間 可選適配器，適用于薄膜和薄層樣品 | 電流： | 低漂移電流，0 至 160 mA（可選 220 mA） |
| 樣品尺寸： (塞貝克系數測量) | 底面積：2 至 5 mm2 最大長度：23 mm 最大直徑：6 mm | 電極材料： | 鎳電極（-100 °C 至 500 °C） 鉑電極（-100 °C 至 1500 °C） |
| 圓盤形樣品尺寸： | 直徑：10 mm、12.7 mm、25.4 mm | 熱電偶類型： | K 型、S 型、C 型 |
| 熱電偶測量間距： | 4 mm、6 mm、8 mm |
| 附加模塊 | LSR-4 升級版 |
| 直流哈曼法： | 直接測量熱電元件的 ZT 值 |
| 交流阻抗光譜法： | 直接測量熱電模塊（TEG / Peltier 模塊）的 ZT 值 |
| 溫度范圍： | -100 °C 至 400 °C 室溫至 400 °C |
| 樣品支架： | 針式接觸，確保絕熱測量條件 |
| 樣品尺寸： | 矩形樣品：底邊 2 至 5 mm ，最大長度 23 mm 圓柱形樣品：最大直徑 6 mm ，最大長度 23 mm 模塊尺寸：最大 50 mm × 50 mm |
與美國國家標準與技術研究院（NIST）提供的碲化鉍（Bi2Te3）標準樣品 (SRM 3451)TM 不同，后者只能在最高 390 K 的有限溫度范圍內使用，而我們選用的標準樣品康銅適用于高達 800 °C 的測量環境。
如圖所示測量結果是一條典型曲線，該曲線完全處于規定的公差范圍之內。體現了康銅樣品在高溫條件下的優異穩定性和可靠性。
硅鍺合金是一種高溫穩定的熱電材料，硅鍺合金是一種高溫穩定的熱電材料，通常用于極端環境條件下的應用，例如太空任務或高溫廢熱能量回收。本實驗是為了測試一種新開發合金的低溫性能。
如圖展示了在林賽斯 LSR 測量系統上使用哈曼方法對 NIST (SRM 3451)TM Bi2Te3 標準樣品進行的直接 ZT 值的測量結果，數據結果清晰地展示了單一溫度測量點下的典型電壓分布。
在本應用案例中，通過確定歐姆電壓降和熱電電壓降之間的關系，就可以輕松計算出室溫下的 ZT 值，室溫下測得的 ZT 值為 0.50 。
